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毫米波紧缩场型暗室XH-CTR

售价：面议

应用领域:

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产品介绍

XH-CTR是反射面式紧缩场测试系统，可根据配置提供不同规格静区尺寸的反射面紧缩场测试系统。紧缩场系统是唯一的CTIA认可5G毫米波OTA 测试方案。 XH-CTR 满足CTIA规范Test Plan for Millimeter－Wave Wireless Device Over-the-Air Performance。系统采用精确计算和加工的铝制卷边反射面和多轴控制的馈源及 DUT转台构建远场环境， XH-CTR加工件全部使用精密CNC完成，反射面精度达到20微米以内，支撑和传动件加工精度在2微米以内。

测试能力

18-52GHz天线无源测试

SG FR2终涮终端产品整机OTA测试

5G FR2基站振元测试和通道校推

5G FR2基站天线OTA测试

24G&77G雷达产品天线和OTA测试

雷达产品幅相测量与校准

无源测试项日

无源测试项日

增益、效率、波束宽度、波束指向、副瓣位置及电平、零点填充、极化方式／交叉极化、圆极化轴比、下倾角、零深、前后比

精准度

Gain(dB)

18-50G

50-110G

10-50G

50-110G

4-50G

50-110G

4-50G

50-110G

2-50G

50-110G

2-50G

50-110G

1.7-2G

2-50G

50-110G

0.69-2GB

2-50G

50-110G

±0.5

≤±0.5

≤±1

≤±0.5

≤±1

≤±0.5

HPBW

±10%

重复性

Gain(dB)

±0.1

有源测试项日

有源测试项日

TRP、ERIP、TIS、EIS、ACPR、EVM、2D/3D方向图、ICS、ACS、OBW

18-50G

50-110G

10-50G

50-110G

4-50G

50-110G

4-50G

50-110

2-50G

50-110G

2-50G

50-110G

1.7-2G

2-50G

50-110G

0.69-2G

2-50G

50-110G

精准度

EIR(dB)

±1

±1.5

±1

±1.5

±1

EIR(dB)

±1

±1.5

±1

±1.5

±1

EIS(dB)

±1.5

EIS(dB)

±1.5

OTA重复测试

EIRP(dB)

±0.3

EIS(dB)

±0.6

技术规格

XH-CTR系列紧缩场规格选型表

系统型号	CTR30	CTR60	CTR120	CTR150	CTR180	CTR240	CTR300	CTR640
暗室最小尺寸长x宽x高m3	1.8X1.2X1.8	2.1X1.6X1.8	5X3X3	6X4X4	8X5X5	10X5X6	12X6X6.5	24X10X10
频率范围（GHz)	18-110	10-110	4-110	4-110	2-110	2-110	1.7-110	0.69-110
系统是否可移动	是	是	否	否	否	否	否	否
静区尺寸（cm）	15x15	30x30	60x60	75x75	90x90	120x120	150x150	320x320
最大被测物（cm）	15	30	60	75	90	120	150	320
反射面尺寸（cm)	30x30	60X60	120X120	150X150	180X180	240X240	305X305	640X640
静区削锥（福-dB/相-度）	1/10	1/10	1/10	1/10	1/10	1/10	1/10@2-110G 0.7/10@1.7-2G	1/10@2-110G 0.7/10@0.69-2G
静区波纹（福-dB/相-度）	±0.5/±5	±0.5/±5	±0.5/±5	±0.5/±5	≤±0.5/±5	≤±0.5/±5	≤±0.5/±5	≤±0.5/±5
交叉极化（dB）	≤-30	≤-30	≤-30	≤-30	≤-30	≤-30	≤-30	≤-30