EMI/EMS预测系统,由机械臂结构带动进场探头进行不间断扫描,可以快速测试主板及外设辐射的电场和磁场杂散,实时显示扫描情况,生成2D/3D场型图,结果支持用户自定义EMI/EMS评判指标
1.详细信息
EMI/EMS预测系统,由机械臂结构带动进场探头进行不间断扫描,可以快速测试主板及外设辐射的电场和磁场杂散,实时显示扫描情况,生成2D/3D场型图,结果支持用户自定义EMI/EMS评判指标。
1、测量原理图
2、EMC场型图
使用EMI/EMS快扫预测系统可以迅速找出杂讯发射源,并且标识处 热区位置,可以用于主板杂散及抗扰分析、屏蔽罩、LCD/TP等配件来料检验筛选。
3、信号分析
系统可以将采集的干扰信号直接与纯净调制信号选行糯台,借助信 号分析仪解调,定量测试干扰器件对有用信号的干扰情况、典型应用如GPS干扰分析、 天线灵敏度干扰分析.
2.技术规格
参数 | 描述 |
外部尺寸 | 1.2m*1.2m*1.2m(含移动支架) |
机械方式 | 高度可调平面扫描 |
步进精度 | 0.1mm |
重复度 | 0.01mm |
耦合方式 | 电场、磁场 |
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